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  • 厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

    美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

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    更新日期:2024-05-15
  • 厚度3.6μm光譜儀薄膜--156

    美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度3.6μm光譜儀薄膜--156

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  • 厚度3.6 μm光譜儀薄膜--150

    美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度3.6 μm光譜儀薄膜--150

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  • 厚度2.5 μm光譜儀薄膜-106

    美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度2.5 μm光譜儀薄膜-106

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  • 厚度2.5 μm光譜儀薄膜-100

    美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度2.5 μm光譜儀薄膜-100

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  • X-RAY樣品膜、Mylar邁拉膜-3015

    Chemplex XRF樣品杯和樣品膜用于RoHS、WEEE測試儀器盛放小顆粒固體,粉末,液體,適用于各種品牌的X射線熒光光譜儀。Chemplex樣品膜薄膜張力特性,與樣品杯組合使用,適合盛放各類金屬重物、液體或粉末。Chemplex的許多XRF樣品杯、樣品薄膜被列為新穎*的設計和應用,并被美國商標局授予知識產權地位。X-RAY樣品膜、Mylar邁拉膜-3015

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