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厚度2.5 μm光譜儀薄膜-106

簡要描述:美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。
X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度2.5 μm光譜儀薄膜-106

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-05-15
  • 訪  問  量:695

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詳細介紹

美國Chemplex樣品膜-106

                          厚度2.5 μm光譜儀薄膜-106

  

品名:XRF樣品膜Sample Film

目錄編號CAT.NO106

產(chǎn)品信息:Mylar(邁拉膜、麥拉膜),厚度2.5 μm,直徑63.5mm,500/

品牌:美國Chemplex Industries.Inc.(*)

貨期:現(xiàn)貨

起訂量:1盒以上。

 

美國Chemplex Industries有限公司從事樣品前處理設(shè)備、耗材研發(fā)和生產(chǎn)的公司,是X射線光譜儀(XRF)配件耗材領(lǐng)域的知名廠商。

Chemplex XRF樣品杯和樣品膜用于RoHS、WEEE測試儀器盛放小顆粒固體,粉末,液體,適用于各種品牌的X射線熒光光譜儀。Chemplex樣品膜薄膜張力特性,與樣品杯組合使用,適合盛放各類金屬重物、液體或粉末。Chemplex的許多XRF樣品杯、樣品薄膜被列為新穎*的設(shè)計和應用,并被美國商標局授予知識產(chǎn)權(quán)地位。

 

     美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRFWD-XRF、ED-XRF)。

     X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。

  

 

 

 

厚度2.5 μm光譜儀薄膜-106

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