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光譜儀檢測(cè)薄膜436

簡(jiǎn)要描述:Chemplex XRF樣品杯和樣品膜用于RoHS、WEEE測(cè)試儀器盛放小顆粒固體,粉末,液體,適用于各種品牌的X射線熒光光譜儀。光譜儀檢測(cè)薄膜436

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-05-17
  • 訪  問  量:807

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詳細(xì)介紹

美國(guó)Chemplex樣品膜-436

 

      品名:XRF樣品膜Sample Film

      型號(hào):CAT. NO:436

      品牌:美國(guó)Chemplex(*)

      貨期:現(xiàn)貨

      起訂量:1盒以上。

 

一、美國(guó)Chemplex XRF樣品膜:

美國(guó)Chemplex Industries有限公司從事樣品前處理設(shè)備、耗材研發(fā)和生產(chǎn)的公司,是X射線光譜儀(XRF)配件耗材領(lǐng)域的廠商。

Chemplex XRF樣品杯和樣品膜用于RoHS、WEEE測(cè)試儀器盛放小顆粒固體,粉末,液體,適用于各種品牌的X射線熒光光譜儀。Chemplex樣品膜薄膜張力特性,與樣品杯組合使用,適合盛放各類金屬重物、液體或粉末。Chemplex的許多XRF樣品杯、樣品薄膜被列為新穎*的設(shè)計(jì)和應(yīng)用,并被美國(guó)*商標(biāo)局授予知識(shí)產(chǎn)權(quán)地位。

 

     美國(guó)Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRFWD-XRF、ED-XRF)。

     X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè),適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。

 

二、Chemplex 樣品膜特點(diǎn):

   有卷狀和片狀,多種規(guī)格、尺寸、數(shù)量可供選擇;

   柔韌性強(qiáng)、方便、耐用;

   X-ray射線穿透性,適合各類XRF光譜儀;

   的抗化學(xué)腐蝕性能,不溶于有機(jī)溶劑,不污染待測(cè)樣品;

   (幾乎不含)痕量雜質(zhì),特別適合于輕質(zhì)元素的*檢測(cè)。

 

三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞SkyrayJordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、SpectracePhilips、Fisons。

 

四、XRF樣品膜目錄:

目錄編號(hào)

CAT. NO

薄膜材料

厚度

長(zhǎng)度(直徑)

數(shù)量/

描述

436

Polypropylene聚丙烯

6.0 μ; 0.00024”; 0.24 mil; 0.00610mm

直徑63.5mm

500

Pre-Cut Circles圓片

 

光譜儀檢測(cè)薄膜436

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