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簡要描述:美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X射線熒光光譜儀薄膜TF-115
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mylar膜/聚丙烯膜、日本理學(xué)/島津/斯派克、EDX邁拉膜/XRF測(cè)試薄膜、美國Premier樣品膜-TF-115
品名:XRF樣品膜Sample Film
型號(hào):TF-115
品牌:美國Premier Lab (*)
貨期:現(xiàn)貨
起訂量:1盒以上。
美國Premier XRF樣品膜:
美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域,以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽(yù)。
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。
X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè),適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。
適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF:
日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。
目錄編號(hào):
CAT. NO 薄膜材料 厚度 長度 數(shù)量 描述
TF-115 Mylar邁拉膜 1.5μ(0.06mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Mylar®Rolls連續(xù)卷軸
X射線熒光光譜儀薄膜TF-115
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